Het inzetten van draagbare XRF analyse instrumenten voor snelle metaalidentificatie is bekend. Daarnaast is deze techniek echter ook zeer geschikt voor het nauwkeurig en snel analyseren van (zware) metalen en schadelijke elementen in grondmonsters en gesteenten. Een belangrijke toepassing hiervan is te vinden in de sanering, projectbouw, grondwerk, maar ook voor de recycling van baggerslib en zelfs AVI bodemas.
Speciaal voor deze toepassingen heeft Oxford Instruments de recent geïntroduceerde en zeer succesvolle X-MET5100 serie uitgebreid met het zogenaamde soil package. Een kalibratiepakket dat specifiek is ontwikkeld voor deze toepassing. Naast bodemmonsters met organische en anorganische samenstelling is dit pakket ook zeer geschikt voor het analyseren van puin en slakken op (zware) metalen. Na een druk op de knop verschijnt de chemische samenstelling binnen enkele seconden tot op ppm niveau op het scherm (zowel zware als lichte elementen als P, S, Mg, Si en Al). Snel, nauwkeurig, direct on-site en zonder speciale vergunningen of beperkingen.
De X-MET5100 soil package analyzer is uitgerust met de nieuwe Silicon Drift Detector (SDD), een krachtige 45KeV röntgenbuis en traceerbare empirische (geoptimaliseerde screeningmode voor zandbodems – SiO2 matrix) en fundamental parameter kalibraties. De nieuwe X-MET generatie is uiteraard IP54 / NEMA 3 goedgekeurd (geheel stof- en spatwaterdicht) en kan dus worden ingezet in de meest barre omstandigheden.
