Alweer enige tijd is de nieuwe Oxford Instruments X-MET5100 op de markt. Deze laatste generatie draagbare XRF analyser combineert de nieuwe Silicon Drift Detector (SDD) met een krachtige 45kV X-ray tube. Sorteer hiermee alle soorten schroot; Ferro en non-ferro, elektronica, kunststof, hout, etc…
Deze geavanceerde technologie biedt een vijf keer snellere meetsnelheid, nog lagere detectiegrenzen en een significante verbetering in nauwkeurigheid ten opzichte van conventionele systemen.
Enkele kerneigenschappen van de nieuwe X-MET5100 SDD Light Elements:
> Supersnel sorteren: Alloy analyse en rang ID in seconden!
> Revolutionaire Light Element analyse (Mg, Al, Si, P, S)
> Onmisbare tool voor het sorteren en analyseren van aluminium en legeringen grote hoeveelheden lichte elementen (Al, Mg, Si, P, S) kunnen bevatten
> Beste Ni nauwkeurigheid vooral in lage concentraties
> Zeer robuust instrument, IP54 gecertificeerd (NEMA 3, dus stof en spatwaterdicht)
> 6061/6063 aluminium scheiden zonder vacuüm of helium purge!
> Snelle analyse van Inox / RVS (304/316 in minder dan 2-3 seconden)
> Afneembare PDA met Bleutooth, WIFI en SD
> Nieuwe intuïtieve software 3.0 incl. legering display en kleurcodes voor elementen die buiten de norm vallen
> Kleur gecodeerde logische functies voor maken van go / no go beslissingen
> Empirische en FP modi werken naadloos samen
> Automatische Alloy screening modus
> Beste lichte elementen analyse geen vacuüm of helium nodig
