Het inzetten van een draagbaar XRF analyse instrument voor snelle metaalidentificatie is bekend. De chemische samenstelling van o.a.; RVS, Koper-, Titanium- en zelfs Aluminiumlegeringen verschijnt binnen enkele seconden op het scherm (zowel zware als lichte elementen als P, S, Mg, Si en Al). Daarnaast is deze techniek ook zeer geschikt voor het nauwkeurig en snel analyseren van (zware) metalen en schadelijke elementen in onderdelen met een lage dichtheid. Een belangrijke toepassing hiervan is te vinden in de kunststof- en elektronica recycling (RoHS en WEEE). Maar ook voor het testen van verpakkingen (polystyreen PS & EPS) consumentengoederen en speelgoed (lood en cadnium) is dit een onontbeerlijk stuk gereedschap.
Speciaal voor deze toepassingen heeft Oxford Instruments de recent geïntroduceerde X-MET5100 serie uitgebreid met het zogenaamde restricted materials package. Een kalibratiepakket dat specifiek is ontwikkeld voor deze toepassing. Naast kunststoffen, PVC en rubbers kunnen hiermee ook diverse soldeerlegeringen, elektronica componenten op (zware) metalen worden geanalyseerd. Direct on-site, zonder speciale vergunningen of beperkingen.
De X-MET5100 resticted materials package analyzer is uitgerust met de nieuwe Silicon Drift Detector (SDD), een krachtige 45KeV röntgenbuis en traceerbare empirische en FP kalibraties. De nieuwe X-MET generatie is IP54 / NEMA 3 goedgekeurd (stof- en spatwaterdicht) en dus geschikt voor de meest barre omstandigheden.
