De nieuwe X-MET5100 röntgen fluorescentie metaal analyzer brengt de meetprestaties van draagbare analyse apparatuur tot een ongekende hoogte.
De krachtige combinatie van de Silicon Drift Detector (SDD), 45kV röntgenbuis en traceerbare empirische kalibratie betekent dat de X-MET5100 binnen 1 seconde metaallegeringen nauwkeurig analyseert en identificeert.
Begrensde elementen, lood in speelgoed, vervuiling van grond en kleine concentraties in ertsen kunnen nauwkeurig gemeten worden met een ongekende. Resultaten van spoorelementen worden tot op ppm niveau binnen enkele seconden gerealiseerd.
Deze baanbrekende technologie zorgt voor een snelle, zeer nauwkeurige meting en maakt het mogelijk om lichte elementen zoals magnesium, aluminium en silicium te meten zonder de hulp van een vacuümpomp of helium gasfles een enorme stap voorwaarts voor de draagbare röntgen fluorescentie analyzers.
Met name schroot-sorteerders en -handelaren kunnen nu eindelijk beschikken over een draagbaar XRF analyzer waarmee ook lichte elementen gemeten kunnen worden. De X-MET5100 benadert laboratorium analyse kwaliteit voor aluminium- en titanium legeringen, als ook voor koper, nikkel en staal.
De X-MET5100 maakt de toch al succesvolle X-MET5000 lijn voor multi-element analyse kompleet. Beide apparaten zijn IP54 (NEMA 3) goedgekeurd en zijn bestand tegen stof en spatwater en kunnen worden gebruikt in de meest ongunstige meet omstandigheden
Algemeen
